サンコウ電子研究所 電磁・渦電流式膜厚計 本体 測定値メモリ20000点 SWT-NEOII 1台●膜厚計本体のみ測定用途に合わせてプローブの選択が可能●測定値が20000点本体メモリ可能●統計演算機能付き●チルトスタンド装備●USB接続でPCへデータ転送が可能●サイズ：72（W）×32（H）×156（D）mm●電源：単3×2本／ACアダプターの2電源●200g電池含む